背散射电子的性质是（）

A:可用于样品的表面成分分析
B:产额随原子序数增加而增加
C:产生范围在表层100~1000 nm内
D:可用于样品的表面形貌分析
答案: 可用于样品的表面成分分析;产额随原子序数增加而增加;产生范围在表层100~1000 nm内;可用于样品的表面形貌分析

A:二次电子
B:特征X射线
C:法拉第网杯
D:背散射电子
答案: 二次电子;特征X射线;背散射电子

A:扫描电子显微镜景深比光学显微镜的景深大
B:电子束的入射半角越大，景深越大
C:扫描电子显微镜景深比透射电子显微镜的景深小
D:景深是对样品高低不平的各部位同时聚焦成像的能力范围
答案: 电子束的入射半角越大，景深越大;扫描电子显微镜景深比透射电子显微镜的景深小

A:对于导电性好的样品，只需直接粘在样品台上，即可进行观察
B:镀膜方法为离子溅射或真空蒸发
C:镀膜可以是金银碳，膜厚在10~20 nm
D:对于非导电样品，要进行镀膜处理，增加导电性
答案: 对于导电性好的样品，只需直接粘在样品台上，即可进行观察;镀膜可以是金银碳，膜厚在10~20 nm

A:阴极栅
B:正极负极栅极
C:阴极阳极
D:阴极阳极栅极
答案: 阴极阳极栅极

A:横向分辨率为0.01 nm，纵向分辨率为0.01 nm
B:可以在高温和低温状态下工作
C:可以对金属样品进行扫描
D:可以在大气真空溶液环境下进行工作
答案: 可以在高温和低温状态下工作;可以在大气真空溶液环境下进行工作

A:

扫描离子电导显微镜

B:

扫描隧道显微镜

C:

原子力显微镜

D:

静电力显微镜

答案:

扫描离子电导显微镜

;

扫描隧道显微镜

;

原子力显微镜

;

静电力显微镜

A:可以对原子分子进行操纵
B:一种具有非常高的空间分辨率的三维轮廓仪
C:可以获得样品表面的摩擦力粘附力等信息性
D:分辨率从原子尺度级到毫米量级
答案: 分辨率从原子尺度级到毫米量级

A:

计算机系统

B:

反馈系统

C:

粗调定位系统

D:

压电扫描器

答案:

计算机系统

;

反馈系统

;

粗调定位系统

;

压电扫描器

A:

表面效应

B:

原子间相互作用力

C:

量子隧穿效应

D:

量子尺寸效应

答案:

量子隧穿效应

A:使用铂丝或者钨丝探针进行扫描
B:当探针与样品表面相距1 nm左右时，会发生隧穿效应
C:探针与样品间距发生变化时，隧穿电流发生指数级改变
D:分辨率可以达到原子尺度级别
答案: 使用铂丝或者钨丝探针进行扫描;当探针与样品表面相距1 nm左右时，会发生隧穿效应;探针与样品间距发生变化时，隧穿电流发生指数级改变;分辨率可以达到原子尺度级别

A:恒定高度模式
B:恒定电流模式
C:恒定扫速模式
D:恒定电压模式
答案: 恒定高度模式;恒定电流模式

A:利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描
B:探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转
C:是利用原子间的吸引力来呈现样品的表面特性
D:可以对导电样品或非导电样品进行观测
答案: 利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描;探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转;可以对导电样品或非导电样品进行观测

A:针尖与悬臂受范德瓦尔斯力和毛细力两种力的作用
B:针尖与样品有轻微的物理接触
C:探针与样品的距离小于1 nm
D:利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏
答案: 利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏

A:固相
B:气相
C:等离子相
D:液相
答案: 固相;气相;等离子相;液相

A:物相结构
B:晶胞常数
C:晶格类型
D:元素组成
答案: 物相结构;晶格类型;元素组成

A:光子衍射
B:X射线衍射
C:电子衍射
D:中子衍射
答案: 光子衍射;电子衍射;中子衍射

A:入射电子束可以被聚焦
B:入射电子与样品原子发生弹性散射，散射波相互干涉形成衍射波
C:入射能量为10~500 eV的低能电子可用于分析样品表面1-5个原子层的结构信息
D:入射能量为10~200 KeV的高能电子穿透能力比X射线强，可用于薄膜分析
答案: 入射电子束可以被聚焦

A:叠加干涉
B:弹性散射
C:非弹性散射
D:衍射
答案: 弹性散射

A:对
B:错
答案: 错

A:错
B:对
答案: 错

A:对
B:错
答案: 错

A:错
B:对
答案: 对

A:错
B:对
答案: 对

A:四方晶系
B:正交晶系
C:立方晶系
D:六方晶系
答案: 四方晶系;正交晶系;立方晶系;六方晶系

A:相互平行
B:成一定角度范围
C:无必然联系
D:相互垂直
答案: 相互垂直

A:1
B:2
C:6
D:4
答案: 4

A:

入射电子与样品原子发生弹性散射，散射波相互干涉形成衍射波

B:

入射能量为10~200 KeV的高能电子穿透能力比X射线强，可用于薄膜分析

C:

入射能量为10~500 eV的低能电子可用于分析样品表面1-5个原子层的结构信息

D:

入射电子束可以被聚焦

答案:

入射电子束可以被聚焦

A:错
B:对
答案: 错

A:错
B:对
答案: 错

A:对
B:错
答案: 对

A:分子
B:离子
C:原子
D:电子
答案: 分子;离子;原子

A:衍射角度
B:产生衍射的晶面
C:衍射图谱
D:衍射波的波矢量
答案: 衍射角度;产生衍射的晶面;衍射图谱;衍射波的波矢量

A:方格子结构
B:平行四边形结构
C:同心圆环
D:六边形结构
答案: 方格子结构

A:不受晶体内周期性的原子排布影响
B:在空间某些方向上发生波的相干增强
C:入射的电磁波和物质波与晶体发生作用的结果
D:在空间某些方向上发生波的相干抵消
答案: 不受晶体内周期性的原子排布影响

A:若与内层强束缚电子作用，会发生相干增强的衍射
B:若与外层弱束缚电子作用，会发生非相干散射
C:原子核外电子包括外层弱束缚电子和内层强束缚电子
D:康普顿散射是相干散射
答案: 若与内层强束缚电子作用，会发生相干增强的衍射;若与外层弱束缚电子作用，会发生非相干散射;原子核外电子包括外层弱束缚电子和内层强束缚电子;康普顿散射是相干散射

A:入射电子受原子核的散射作用时，原子核基本不动，电子不损失能量，发生弹性散射
B:入射电子受核外电子的散射作用时，入射电子能量会转移给核外电子，损失部分能量，波长不发生改变，发生非弹性散射
C:电子在物质中的弹性散射大于非弹性散射
D:入射电子受核外电子的散射作用时，入射电子能量会转移给核外电子，损失部分能量，波长发生改变，发生非弹性散射
答案: 入射电子受原子核的散射作用时，原子核基本不动，电子不损失能量，发生弹性散射;电子在物质中的弹性散射大于非弹性散射;入射电子受核外电子的散射作用时，入射电子能量会转移给核外电子，损失部分能量，波长发生改变，发生非弹性散射

A:在弹性散射情况下，晶体内部某些方向的散射波发生相干增强，形成衍射波
B:透射电子显微镜可以看到原子尺度上的结构信息
C:电子衍射强度比X射线高1000倍
D:电子衍射可以提供试样晶体结构原子排列原子种类等信息
答案: 电子衍射强度比X射线高1000倍;电子衍射可以提供试样晶体结构原子排列原子种类等信息

A:h+k+l为奇数
B:不存在系统消光
C:hkl为异性数
D:h+k为奇数
答案: 不存在系统消光

A:220
B:111
C:112
D:200
答案: 112

A:吸收因子
B:结构因子
C:多重性因子
D:角因子
答案: 多重性因子

A:错
B:对
答案: 对

A:对
B:错
答案: 对

A:对
B:错
答案: 对