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原子力显微镜() A:利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描 B:探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转 C:是利用原子间的吸引力来呈现样品的表面特性 D:可以对导电样品或非导电样品进行观测 答案: 利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描;探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转;可以对导电样品或非导电样品进行观测


原子力显微镜()

A:利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描
B:探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转
C:是利用原子间的吸引力来呈现样品的表面特性
D:可以对导电样品或非导电样品进行观测
答案: 利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描;探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转;可以对导电样品或非导电样品进行观测

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