A:221 B:110 C:220 D:210 答案: 221
本门课程完整答案：点击这里，查看 材料测试技术及方法 知到智慧树答案满分完整版章节测验 z9527
A:衍射矢量方程
B:劳埃方程+约束性方程 C:布拉格方程 D:厄瓦尔德图解 答案: 布拉格方程
A:平行 B:以60度相交 C:角度不确定 D:垂直 答案: 平行
A:Kβ
B:Kγ C:Lα
D:Kα 答案: Kβ
A:6 B:3
C:5
D:4
答案: 4
A:12 B:8
C:4
D:6
答案: 8
A:衍射峰的峰强只与材料中该样品的含量有关 B:θ越大，得到的点阵常数越精确
C:根据衍射峰的峰位进行定性分析 D:利用谢乐公式计算晶粒大小时晶粒尺寸一般<100nm 答案: 衍射峰的峰强只与材料中该样品的含量有关
A: α=β=γ=90° B:Ag的点阵常数为0.410nm C:根据条件可知，Ag的第一衍射峰对应的θ为19° D:根据消光条件，Ag的第一衍射峰为（111） 答案: α=β=γ=90°; Ag的点阵常数为0.410nm; 根据条件可知，Ag的第一衍射峰对应的θ为19°; 根据消光条件，Ag的第一衍射峰为（111）
A:0.001mm B:0.008cm
C:0.008mm
D:0.001cm 答案: 0.008mm
A:错 B:对 答案: 对
A:样品相对于电子束必须有足够的透明度
B: 在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀
C:薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化
D:薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备夹持和操作过程中不会引起变形和损坏 答案: 样品相对于电子束必须有足够的透明度 ; 在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀 ; 薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化 ; 薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备夹持和操作过程中不会引起变形和损坏
A:对 B:错 答案: 对
A:[01-1] B:[211] C: [210] D: [0-1-2] 答案: [01-1]
A:入射电子束衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。 B:只关心衍射斑点的位置，不关心强度。 C:只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。 D:只能观察薄膜样品的结构，不能与形貌观察有机结合起来。 答案: 入射电子束衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。; 只关心衍射斑点的位置，不关心强度。; 只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。
