利用XRD进行分析，下列说法不正确的是。

A:衍射峰的峰强只与材料中该样品的含量有关
B:θ越大，得到的点阵常数越精确

C:根据衍射峰的峰位进行定性分析
D:利用谢乐公式计算晶粒大小时晶粒尺寸一般<100nm
答案: 衍射峰的峰强只与材料中该样品的含量有关

A: α=β=γ=90°
B:Ag的点阵常数为0.410nm
C:根据条件可知，Ag的第一衍射峰对应的θ为19°
D:根据消光条件，Ag的第一衍射峰为（111）
答案:  α=β=γ=90°;
Ag的点阵常数为0.410nm;
根据条件可知，Ag的第一衍射峰对应的θ为19°;
根据消光条件，Ag的第一衍射峰为（111）

A:0.001mm
B:0.008cm

C:0.008mm

D:0.001cm
答案: 0.008mm

A:错
B:对
答案: 对

A:错
B:对
答案: 对

A:错
B:对
答案: 对

A:样品相对于电子束必须有足够的透明度

B: 在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀

C:薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化

D:薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备夹持和操作过程中不会引起变形和损坏
答案: 样品相对于电子束必须有足够的透明度
;
 在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀
;
薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化
;
薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备夹持和操作过程中不会引起变形和损坏

A:对
B:错
答案: 对

A:[01-1]
B:[211]
C: [210]
D: [0-1-2]
答案: [01-1]

A:入射电子束衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。
B:只关心衍射斑点的位置，不关心强度。
C:只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。
D:只能观察薄膜样品的结构，不能与形貌观察有机结合起来。
答案: 入射电子束衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。;
只关心衍射斑点的位置，不关心强度。;
只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。

A:错
B:对
答案: 对

A:对
B:错
答案: 对

A:错
B:对
答案: 对